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在萬能試驗(yàn)機(jī)中添加嵌入式測(cè)控技術(shù)目前在試驗(yàn)機(jī)行業(yè)中算是最為先進(jìn)的控制技術(shù)，隨著試驗(yàn)機(jī)行業(yè)的發(fā)展和對(duì)工業(yè)材料檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和控制效率的提高，采用傳統(tǒng)的單一的單片機(jī)控制下的試驗(yàn)機(jī)已經(jīng)不能滿足工業(yè)需求。在嵌入式試驗(yàn)機(jī)測(cè)控系統(tǒng)發(fā)展過程中大致經(jīng)歷如下幾個(gè)階段：
1、 以8位單片機(jī)為下位機(jī)核心的試驗(yàn)機(jī)嵌入式測(cè)控系統(tǒng)，該系統(tǒng)是目前較為流行的試驗(yàn)機(jī)測(cè)控系統(tǒng)，是最早的試驗(yàn)機(jī)嵌入式測(cè)控系統(tǒng)方式。該系統(tǒng)主要應(yīng)用于要求較高的工業(yè)領(lǐng)域，但是沒有系統(tǒng)的上位機(jī)軟件支持。其主要特點(diǎn)就是：這種測(cè)控系統(tǒng)技術(shù)相對(duì)簡單，用戶接口少，實(shí)時(shí)性低，無法滿足大容量存儲(chǔ)。
2、 以現(xiàn)有的高級(jí)單片機(jī)為核心的試驗(yàn)機(jī)嵌入式測(cè)控系統(tǒng)，其中所謂的高級(jí)芯片包括CPLD、FPGA和ARM系列單片機(jī)等。該系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是：系統(tǒng)的功能定制方便，在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)實(shí)時(shí)性高，而且采用高端單片機(jī)在后期產(chǎn)品升級(jí)上占有很大優(yōu)勢(shì)。以同種類型的單片機(jī)作為控制核心的試驗(yàn)機(jī)測(cè)控系統(tǒng)，可以更換同種類的單片機(jī)。同時(shí)采用高端單片機(jī)可以支持復(fù)雜電路結(jié)構(gòu)和多種中斷處理，提供豐富的接口資源。 |
